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扫描电镜

XE-NSOM近场扫描光学显微镜

文字:[大][中][小] 2014-9-28    浏览次数:1272    

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  XE-NSOM –用于各种光学应用的完备的AFM 系统
  XE-NSOM是Park Systems专为高级光学研究而精心设计的一款专业产品,该仪器具备近场扫描光学显微镜(Near-field Scanning Optical Microscopy, NSOM)、拉曼光谱仪 (Raman Spectrometry)和共聚焦显微镜(Confocal Microscopy)功能。XE-NSOM 为此类光学实验提供了一整套性能可靠功能齐全的研究检测系统。
  技术参数(机械部分):
  1. XY扫描器:100?m×100?m(闭环)
  2. Z扫描器:12?m (可选配25?m)
  3. 水平度:100?m线扫描垂直偏差不超过2nm
  4. 样品台移动范围:4mm(X/Y),27.5mm (Z)
  5. 成像方法: AFM, NSOM
  6. 光学观察:垂直光路设计,可直接观察微悬臂和样品
  技术参数(NSOM部分):
  1. NSOM激光光谱:400~900nm
  2. 可根据透射或反射NSOM测量要求选用有孔或无孔微探针
  3. 光子检测:APD 或PMT
  技术参数(电子部分)
  1. 微处理器:600MHz,4800MIPS DSP
  2. 模数/数模:16位,500kHz采样频率
  3. 图像采集:同步自动采集16幅图像,分辨率高达4096×4096像素
  4. 通讯方式:采用基于TCP/IP协议的通讯方式与计算机联接
  5. 符合CE认证标准
  主要特点:
  专业NSOM和Raman-AFM测量系统
  一、 原子力显微镜和光学测量的完美结合
  二、 科学的光学设计提供了更宽的观测角度
  三、 多功能的平台可满足反射和透射测量要求
  四、 适宜光子检测的便捷式光轴调节系统
  五、 便于产品升级的模块化设计思想

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